Successful Research!

Mixing, Dispersing, Emulsion, Powder Milling, Grinding,
Analysis, Measuring, Lab Reactor, Materials, Lab Total Solutions

Analysis & Measuring Technology

Particle Analysis, SEM Imaging, Sample Coating,
Viscosity Measuring, Weighing, Etc.

분석/측정장비

탁상형 주사전자현미경

Mini-SEM

  •

    Bruker EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) [Bruker]

    • ● Detector - LN2(액체질소)를 사용하지 않는 SDD Type
    • ● 정성·정량분석, Multi-point Analysis, Line Scan, Mapping
    • ● Report 기능 지원

  • sec MCM-200 Ion Sputter Coater [sec]

    • ● 코팅두께 신뢰성 최적화로 샘플손상 최소화
    • ● 터치패널 디스플레이로 조작 간편
    • ● Sample Loading Size - Max. 50mm

  • sec MCM-100 Ion Sputter Coater [sec]

    • ● 빠르고 쉬운 코팅 방식(자동진공 → 플라즈마코팅 → 진공해제)
    • ● 저 전압 코팅으로 시료손상 없음
    • ● Sample Loading Size - Max. 50mm

  • sec SNE-3000MB Mini-SEM [sec]

    • ● 최대배율: 30,000 배 구현
    • ● Non-coating 시료분석가능 (부도체시료)
    • ● 반사영상 이미지 제공

  • sec SNE-3000MS Mini-SEM [sec]

    • ● 최대배율: 60,000 배 구현
    • ● 2차전자 (SE) Detector 장착
    • ● 3200M 모델에서 BSE 기능을 제외시킨 가장 합리적 가격 모델

  • sec SNE-3000M Mini-SEM [sec]

    • ● 최대배율: 60,000 배 구현
    • ● 2차전자 (SE) Detector 장착
    • ● 3200M 모델에서 BSE 기능을 제외시킨 가장 합리적 가격 모델

  • sec SNE-3200M Mini-SEM [sec]

    • ● 최대배율: 60,000 배 구현
    • ● 2차전자 (SE) + 후방산란전자 (BSE) multi 장착
    • ● EDS system 장착을 통한 성분분석 (optional)

  • sec SNE-4500M Mini-SEM [sec]

    • ● 최대배율: 100,000 배 구현
    • ● 고심도, 고해상도의 수준높은 영상제공
    • ● EDS system 장착을 통한 성분분석 (optional)

  • Bruker EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) [Bruker]

    • ● Detector - LN2(액체질소)를 사용하지 않는 SDD Type
    • ● 정성·정량분석, Multi-point Analysis, Line Scan, Mapping
    • ● Report 기능 지원

  • GSEM G20 Ion Sputter Coater [GSEM]

    • ● 코팅두께 신뢰성 최적화로 샘플손상 최소화
    • ● 터치패널 디스플레이로 조작 간편
    • ● Sample Loading Size - Max. 53mm

  • Emcraft Cube Ⅱ Mini-SEM [Emcraft]

    • ● 최대배율: 200,000 배 구현
    • ● 고심도, 고해상도의 수준높은 영상제공
    • ● EDS system 장착을 통한 성분분석 (optional)